先端的単一微粒子内部構造解析装置による越境汚染微粒子の起源・履歴解明の高精度化_東京工業大学_藤井　正明_平成24年度_環境研究総合推進費終了成果報告書(B-1006)

評価 ( )
  • とても良い(0)
  • 良い(0)
  • どちらでもない(0)
  • あまり良くない(0)
  • 悪い(0)

データとリソース

詳細情報

タイトル 先端的単一微粒子内部構造解析装置による越境汚染微粒子の起源・履歴解明の高精度化_東京工業大学_藤井　正明_平成24年度_環境研究総合推進費終了成果報告書(B-1006)
データセット管理名 env_20170508_0237
説明
タグ エネルギーと環境 バルク観測 レーザーイオン化 後方流跡線解析 情報公開 環境 粒別分析 越境汚染 長崎福江島 集束イオンビーム_二次イオン質量分析
公表組織名 環境省
連絡先 総合環境政策局総務課環境研究技術室
作成者 総合環境政策局総務課環境研究技術室
作成頻度 更新しない
対象地域
対象期間
公開ウェブページ http://www.env.go.jp/policy/kenkyu/suishin/kadai/syuryo_report/h24/h24_suishin_report.html
配布
リリース日 2017-05-12
最終更新日 2023-06-10

レビューを参照

レビューを登録

評価

このデータセットを評価してください。

類似データセット